VISION APPLICATION

전기/전자 분야

MLCC 칩섬 검사 시스템

  • MLCC 칩의 모로섬/미삽/오삽 등을 검사합니다.
  • 칼라 Area 카메라를 이용한 칼라패턴매칭, Classify 등을 이용한 선별 검사를 진행합니다.
  • 불량 위치를 판별하여 Pick & Place로 불량칩을 추출합니다.

MLCC 칩섬 검사 시스템

  • 타발기에서 생상되는 제품의 폭 치수 측정을 하여 Encoder 값과 조합 불량 제품의 사이드에 Marking 처리
  • 검사 설정 시 User는 제품의 양/불 Spec만 기입 하면 위치보정, 검사영역 등이 설정 됩니다.

레이저 측정 기기 통합 모듈 프로그램

  • Auto Correlator, Beam Profiler, Power Meter, Spectrometer 통합 모듈 프로그램입니다.
  • 종합적인 측정 데이터를 산출하여 기록, 저장 및 Report를 제공합니다.

컨덴서 도포량 검사

  • 컨덴서에 주사되는 실리콘 도포량을 검사합니다.
  • 실리콘 주사와 동시에 실시간으로 검사하므로, 별도의 Tact Time이 요구되지 않습니다.
  • 검사 결과 Report와 더불어 누적/생산관리/불량내역 등의 정보를 저장합니다.